Il laboratorio dispone di strumenti analitici e macchine di prova per lo studio delle proprietà dei materiali. Sono disponibili microscopi ottici ed elettronici dotati di detector EDX e EBSD per l'analisi microstrutturale, della texture e la failure analysis. Le proprietà termiche, fisiche e chimiche dei materiali vengono caratterizzate attraverso un insieme di strumenti analitici, tra cui un dilatometro, un analizzatore laser-flash, un calorimetro differenziale a scansione, uno spettrometro a emissione ottica, un analizzatore di ossigeno e azoto, e una piattaforma per l'analisi delle proprietà termoelettriche. Le proprietà delle superfici dei materiali e dei rivestimenti vengono analizzate mediante tribometro a piastra e disco,scratch tester e microdurometro strumentato.

STRUMENTI E ATTREZZATURE

• Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Zeiss Sigma 500, equipaggiato con i rivelatori Oxford Ultimax 65 Energy Dispersive X-ray Analysis (EDS) e Oxford C-NANO Electron Backscattered Diffraction (EBSD)
• Microscopio elettronico a scansione termionico Zeiss EVO 50XVP, con detector Oxford Inca Energy 200 X-ray microanalysis (EDS)
• Microscopio ottico Nikon Eclipse LV150NL
• Diffrattometro a raggi X Rigaku SmartLab SE, per analisi di fase qualitativa e quantitativa. Lo strumento è dotato di un supporto Euleriano per analisi di tensioni e texture dei materiali cristallini tramite EBSD e XRD
• Diffrattometro a raggi X StressTech X3000, per misurazioni non distruttive delle tensioni residue e dell’austenite trattenuta nei materiali cristallini
• Consente inoltre l'analisi di grandi componenti meccanici, incluse applicazioni in situ come oleodotti e ponti
• Sistema di analisi termica Setaram Themys One DSC/TGA, dotato di forno e aste per cicli di temperatura fino a 1600°C
• OES Bruker Q4 Tasman 130
  • Matrici: Fe, Al, Ni, Ti
  • Campioni volumetrici
  • Dimensione minima del campione: 25x25x0.5 mm
• Analizzatore di ossigeno e azoto LECO
• Dilatometro verticale Linseis V75, con intervalli di temperatura RT-900°C e RT-1600°C
• Laser Flash Analyzer Linseis LFA 1000/1600, per misure dirette della diffusività termica e indirette della conducibilità termica nell'intervallo di temperatura RT-1600°C
• Seebeck/TE Linseis LZT 1100
  • Sistema combinato LFA (diffusività termica) e LSR (Seebeck e resistività) per campioni cilindrici (diametro fino a 6 mm e lunghezza max. 23 mm), prismatici (da 2 a 5 mm rettangolari e max. 23 mm di lunghezza) e di forma a bottone (da Ø12,7 a Ø25,4 mm)
  • Temperatura massima: 1100°C in atmosfera di elio
• Tribometro CSM pin-on-disk
• Microindenter CSM, con microdurezza strumentata (carichi da 0,01 a 10 N) e scratch tester (intervallo di carico 0,3-30 N)
• Strumento a correnti parassite Foerster SIGMATEST 2.069, per la misura della conducibilità elettrica dei metalli non ferromagnetici nell'intervallo 0,5-65 MS/m
• Sonde di flusso di calore FCR-200-M-K fornite da Wuntronic GmbH, con temperatura massima di servizio di 550°C e intervallo massimo di flusso di calore di 15.800 W/(m²K), sensibilità di 560 (W/m²)/mV
• Multimetro a 7,5 cifre Keithley

ATTIVITÀ

• Investigazione microstrutturale, analisi dei cedeminti e controllo qualità tramite microscopia ottica ed elettronica a scansione
• Analisi della texture di materiali cristallini tramite EBSD e XRD
• Analisi chimica tramite OES, EDX e LECO
• Analisi delle fasi e delle tensioni residue tramite diffrazione a raggi X
• Analisi termica tramite dilatometro, analizzatore laser flash e calorimetria a scansione differenziale
• Test di usura tramite tribometro pin-on-disk e analisi dell'adesione dei rivestimenti tramite tester di graffiatura