Microscopio elettronico con sorgente ad emissione di campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) corredato di sistemi di microanalisi EDS ed analisi cristallografica EBSD.

Caratteristiche e funzionalità disponibili

• ZEISS SIGMA 500 (Colonna elettro-ottica Gemini, Sorgente di emissione ad effetto di campo tipo Schottky, Tavolino portacampioni eucentrico motorizzato su cinque assi, Sistema di imaging avanzato, Software SmartSEM per l'acquisizione e la gestione delle immagini con funzione lmage Navigation per Microscopia Correlativa)
• Microanalisi EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) OXFORD Altee Energy - Advanced per rilevamento caratteristiche morfologiche e di composizione chimica
• Sistema EBSD (Electron Backs-Scattered Diffraction) AZTEC HKL per analisi cristallografiche

Riferimento scientifico: Prof. Maurizio Vedani

Riferimenti operativi: Ludovica Rovatti - Rasheed Michael Ishola

Scheda dell'apparecchiatura